EDX-8800H 立式X熒光礦石分析光譜儀

Simply the Best

>美國(guó)AmpTek -FSDD探測(cè)器, 高分辨率高計(jì)數(shù)率>真空測(cè)試環(huán)境提供輕元素檢測(cè)效果>無(wú)損元素分析涵蓋11Na to 92U>適應(yīng)各種復(fù)雜礦物樣品測(cè)試，固體，液體，合金，粉末和泥漿>多組合濾光片系統(tǒng)，有效提高微量元素檢出限>堅(jiān)固的設(shè)計(jì)適用于于各種復(fù)雜而嚴(yán)苛的現(xiàn)場(chǎng)工作環(huán)境

EDX8800H MAX能量色散熒光光譜儀-材料成分分析專家

作為一款高性能的臺(tái)式能量色散X射線熒光（EDXRF）元素分析儀，新款EDX8800H MAX配置了基于Windows基本參數(shù)算法的FP（Fundamental parameter）軟件，

同時(shí)配備了高性能硬件，來(lái)滿足客戶對(duì)于復(fù)雜礦石樣品的元素分析需求。無(wú)論客戶的樣品是是固體，合金，粉末，液體或者漿液，EDX8800H MAX都可以輕松實(shí)現(xiàn)從

鈉（Na）到鈾（U）元素的無(wú)損定性和定量分析。更快的分析速度，更精確的測(cè)試結(jié)果，更穩(wěn)定的儀器性能， 使得EDX8800H MAX成為了客戶進(jìn)行元素分析的最佳工

具之一。EDX8800H MAX專注于對(duì)地質(zhì)材料的主量，微量和痕量元素進(jìn)行定性和定量分析，其中包括：•鐵礦• 銅礦• 鋁土礦•貴金屬礦產(chǎn)•稀土礦•原料•磷酸鹽•煤炭•鉛鋅礦•錳礦•鎳礦•石灰石•粘土•石膏•玻璃•土壤•水泥•耐火材料及其他等

EDX8800H MAX操作簡(jiǎn)單，分析性能出色，同時(shí)還可拓展到以下應(yīng)用

>塑膠及有機(jī)物：塑料材料PE，PVC，添加劑等元素分析>石油化工：燃料，潤(rùn)滑油監(jiān)測(cè)，添加劑，磨損金屬等中的硫元素分析>環(huán)境：廢水，空氣污染，土壤和地面，排放控制等>涂層厚度和薄膜：分析多層涂層，鋼涂層，雜質(zhì)等>刑偵及公安：證據(jù)分析，材料匹配，爆炸物等>食品，化妝品和藥品：添加劑控制，原材料，有害金屬，包裝材料等

產(chǎn)品特點(diǎn)

作為一款專業(yè)為礦產(chǎn)元素分析而設(shè)計(jì)和生產(chǎn)的光譜儀，EDX-8800H MAX兼顧了耐用性，易于操作和高性價(jià)比。其顯著優(yōu)勢(shì)主要有：•無(wú)需或者很少的樣品制備，全程無(wú)損分析，一到三分鐘即可出結(jié)果•強(qiáng)大的基于Windows的FP（基本參數(shù)算法）軟件降低了基體效應(yīng)的影響•高功率光管和電制冷的FSDD硅漂移檢測(cè)器不僅具有出色的短期重復(fù)性和長(zhǎng)期重現(xiàn)性，而且具有出色的元素峰分辨率•能同時(shí)進(jìn)行元素和氧化物成分分析•多重儀器硬件保護(hù)系統(tǒng)，并可通過(guò)軟件進(jìn)行全程實(shí)時(shí)監(jiān)控, 讓儀器工作更穩(wěn)定、更安全•特別設(shè)計(jì)的光路和真空系統(tǒng)大大提高了輕元素(Na, Mg, Al, Si, P）的測(cè)試靈敏度和準(zhǔn)確性，同時(shí)在測(cè)試Cd,Pb,Cr,Hg,Br,Cl等其他元素的靈敏度和穩(wěn)定性都有了明顯的提高•友好的用戶界面，可定制的分析報(bào)告，可一鍵打印測(cè)試報(bào)告，包括分析結(jié)果，樣品信息，光譜信息和樣品圖像•八種光路準(zhǔn)直系統(tǒng)，根據(jù)不同樣品大小自動(dòng)切換，亦可測(cè)試樣品不同位置再求平均值，降低樣品不均勻性造成的誤差•高清內(nèi)置攝像頭，清晰地顯示儀器所檢測(cè)的樣品部位

礦產(chǎn)元素檢測(cè)專家EDX8800H MAX>儀器參數(shù)

>儀器配置

功能強(qiáng)大而界面友好的測(cè)試軟件

界面清晰易用。選擇方法并輸入樣品識(shí)別信息后即可開始測(cè)量。軟件內(nèi)核-基本參數(shù)法（FP）可輕松分析未知樣品。EDX8800H MAX已在工廠預(yù)安裝了軟件并進(jìn)行了數(shù)據(jù)標(biāo)定，客戶運(yùn)行軟件即可立刻開始測(cè)試。無(wú)需每天重復(fù)標(biāo)定。強(qiáng)大的軟件功能還提供了>一鍵初始化儀器，基體自動(dòng)匹配>自動(dòng)定性，半定量和定量分析，不同樣品測(cè)試譜圖可實(shí)時(shí)對(duì)比>光譜處理和校正，去除雙倍峰和逃逸峰干擾，降低元素吸收增強(qiáng)效應(yīng)影響>光譜背景扣除，有效提高微量元素檢測(cè)精度>可實(shí)時(shí)刷新測(cè)量結(jié)果>簡(jiǎn)單的流程欄向?qū)Э蓭椭脩魟?chuàng)建新的自定義標(biāo)定曲線>可定制化測(cè)試報(bào)告，一鍵打印