膜厚儀EDX-8000T Plus型XRF鍍層測(cè)厚儀/電鍍液分析儀

背景介紹材料的鍍層厚度是一個(gè)重要的生產(chǎn)工藝參數(shù)，其選用的材質(zhì)和鍍層厚度直接影響了零件或產(chǎn)品的耐腐蝕性、裝飾效果、導(dǎo)電性、產(chǎn)品的可靠性和使用壽命，因此，鍍層厚度的控制在產(chǎn)品質(zhì)量、過程控制、成本控制中都發(fā)揮著重要作用。英飛思開發(fā)的EDX8000T Plus鍍層測(cè)厚儀是專門針對(duì)于鍍層材料成分分析和鍍層厚度測(cè)定。其主要優(yōu)點(diǎn)是準(zhǔn)確，快速，無損，操作簡(jiǎn)單，測(cè)量速度快。可同時(shí)分析多達(dá)五層材料厚度，并能對(duì)鍍層的材料成分進(jìn)行快速鑒定。XRF鍍層測(cè)厚儀工作原理鍍層測(cè)厚儀EDX8000T Plus是將X射線照射在樣品上，通過從樣品上反射出來的第二次X射線的強(qiáng)度來測(cè)量鍍層等金屬薄膜的厚度，因?yàn)闆]有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線能量很低，所以不會(huì)對(duì)樣品造成損壞。同時(shí)，測(cè)量的也可以在10秒-30秒內(nèi)完成。膜厚儀EDX8000T Plus產(chǎn)品特點(diǎn)>全新的下照式一體化設(shè)計(jì)>測(cè)試快速，無需樣品制備>可通過內(nèi)置高清CCD攝像機(jī)來觀察及選擇定位微小面積鍍層厚度的測(cè)量，避免直接接觸，污染或破壞被測(cè)物。軟件配備距離補(bǔ)正算法，實(shí)現(xiàn)了對(duì)不規(guī)則樣品（如凹凸面，螺紋，曲面等）的異型件的精準(zhǔn)測(cè)試>備有多種以上的鍍層厚度測(cè)量和成分分析時(shí)所需的標(biāo)準(zhǔn)樣品>SDD檢測(cè)器，具有高計(jì)數(shù)范圍和出色的能量分辨率>自動(dòng)切換準(zhǔn)直器和濾光片膜厚儀EDX8000T Plus應(yīng)用場(chǎng)景>EDX8000T Plus鍍層測(cè)厚儀可以用于PCB鍍層厚度測(cè)量，金屬電鍍鍍層分析；>測(cè)量的對(duì)象包括鍍層、敷層、貼層、涂層、化學(xué)生成膜等>可測(cè)量離子鍍、電鍍、蒸鍍、等各種金屬鍍層的厚度>鍍鉻，例如帶有裝飾性鍍鉻飾面的塑料制品>鋼上鋅等防腐涂層>電路板和柔性PCB上的涂層>插頭和電觸點(diǎn)的接觸面>貴金屬鍍層，如金基上的銠材料分析>分析電子和半導(dǎo)體行業(yè)的功能涂層>分析硬質(zhì)材料涂層，例如 CrN、TiN 或 TiCN>可拓展增加RoHS有害元素分析功能，電鍍液離子濃度分析

技術(shù)參數(shù)

鍍層專用分析軟件，功能強(qiáng)大，方便易學(xué)>基于無標(biāo)樣分析算法內(nèi)核FP開發(fā)，提高測(cè)量精度>帶自動(dòng)距離補(bǔ)償算法>一鍵測(cè)試，一鍵打印報(bào)告，可定制測(cè)試報(bào)告模板

膜厚儀EDX8000T Plus可分析的常見鍍層材料可測(cè)試重復(fù)鍍層、非金屬、輕金屬、多層多元素以及有機(jī)物層的厚度及成分含量單涂鍍層應(yīng)用：如Ag/Cu,Zn/Fe，Cr/Fe, Ni/Fe等多涂鍍層應(yīng)用：如Ag/Pb/Zn, Ni/Cu/Fe，Au/Ni/Cu等合金鍍層應(yīng)用：如ZnNi/Fe, ZnAl/Ni/Cu等合金成分應(yīng)用：如NiP/Fe, 同時(shí)分析鎳磷含量和鍍層厚度