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專注光譜分析
光譜分析設備產品生產家18962188051
簡要描述：ESI英飛思EDX9000B plus光譜儀主要應用于采礦作業(yè)（勘探、開采、品位控制），工業(yè)礦物，生產水泥和建筑材料的原材料，耐火材料，陶瓷和玻璃，地球化學學術研究，考古等。其優(yōu)異的線性動態(tài)范圍，可實現在水泥、礦物、采礦、金屬、玻璃和陶瓷行業(yè)進行超高精度的過程控制和質量控制。具有全新真空光路系統(tǒng)和超高分辨率技術的新一代Fast SDD檢測器，對輕、中、重元素和常見氧化物都可達到最佳分析效果。
產品廠地：蘇州市廠商性質：生產廠家更新時間：2024-10-30訪 問 量：1255詳細介紹
| 品牌 | 英飛思 | 行業(yè)專用類型 | 地質巖礦 |
|---|---|---|---|
| 價格區(qū)間 | 面議 | 儀器種類 | 臺式/落地式 |
| 應用領域 | 環(huán)保,地礦,建材/家具,鋼鐵/金屬,綜合 |
EDX-9000B PLUS XRF Spectrometer
能量色散X熒光光譜儀
礦產礦石專用分析儀
Simply the Best
>*制成Peltier電制冷 FAST SDD硅漂移檢測器
>真空光路配備薄膜濾光片技術，提高輕元素檢出限
>可同時分析40種元素
>可分析固體，液體，粉末和泥漿
>進口X光管管芯提供可靠樣品激發(fā)性能
>無損檢測，快速分析（1-2分鐘出結果）
>無需化學試劑，無耗材，更環(huán)保，更高效
EDX9000B Plus能量色散X熒光光譜儀-礦產/礦石分析專家
ESI英飛思EDX9000B plus光譜儀主要應用于采礦作業(yè)（勘探、開采、品位控制），工業(yè)礦物，
生產水泥和建筑材料的原材料，耐火材料，陶瓷和玻璃，地球化學學術研究，考古等。EDX9000B plus優(yōu)異的線性動態(tài)范圍，可實現在水泥、礦物、采礦、金屬、玻璃和陶瓷行業(yè)進行超高精度的過程控制和質量控制。
具有全新真空光路系統(tǒng)和超高分辨率技術的新一代Fast SDD檢測器，對輕、中、重元素和常見氧化物（Na2O、MgO、Al2O?、SiO?、P2O5、SO?、K2O、CaO、TiO?、Cr2O?、MnO、Fe2O?、ZnO和SrO等）都可達到最佳分析效果。
EDX9000B plus優(yōu)秀的分析性能，使其可以輕松完成對以下礦種的測試：
鐵礦(磁鐵礦、赤鐵礦、鈦鐵礦、菱鐵礦等)
銅礦(黃銅礦、赤銅礦、孔雀石等)
鉻礦(鉻鐵尖晶石、鉻鐵礦、鉻鉍礦等)
鉬礦(輝鉬礦、銅鉬礦、鎢鉬礦等)
鎢礦(白鎢礦、黑鎢礦、錫鎢礦等)
鉭礦(鉭鐵礦、鈮鐵礦、燒綠石等)
鉛鋅礦(方鉛礦、閃鋅礦、白鉛礦等)
鎳礦(紅土鎳礦、硫化銅鎳礦等)
鋁土礦
其它礦類
產品特點
1.小型化、高性能、高速度、易操作，Na11-U92高靈敏度、高精度分析
2.可同時分析40種元素
3.采用多準直器多濾光片和扣背景技術
4. Peltier電制冷 FAST SDD硅漂移檢測器提供出色的短期重復性和長期再現性以及出色的元素峰分辨率
5.超高記數數字多道電路設計，雙真空抽速機構，真空度自動穩(wěn)定系統(tǒng)
6.標配基本參數法軟件，多任務，多窗口操作
7.薄膜濾光片技術，有效提高輕元素檢出限
礦產元素檢測專家EDX9000B Plus
>儀器參數
儀器外觀尺寸: 565mm*385mm*415mm |
超大樣品腔：465mm*330mm*110mm |
半封閉樣品腔（抽真空時）：Φ150mm×高75mm |
儀器重量: 48Kg |
元素分析范圍：Na11-U92鈉到鈾 |
可分析含量范圍：1ppm- 99.99% |
探測器：AmpTek 超高分辨率電制冷Fast SDD硅漂移檢測器 |
探測器分辨率：122 eV FWHM at 5.9 keV |
處理器類型：全數字化DP-5分析器 |
譜總通道數：4096道 |
X光管：高功率50瓦光管（進口管芯），冷卻方式：硅脂冷卻 |
光管窗口材料：鈹窗 |
準直器：多達8種選擇，最小0.2mm |
濾光片：7種濾光片的自由選擇和切換 |
高壓發(fā)生裝置：原裝美國高壓，電壓輸出：0-50kV；輸出電流：0-1mA |
高壓參數：最小5kv可控調節(jié)，自帶電壓過載保護，輸出精度：0.01% |
樣品觀察系統(tǒng)：500萬像素高清CCD攝像頭 |
電壓：220ACV 50/60HZ |
環(huán)境溫度：-10 °C 到35 °C |
儀器配置
>標準配置 | >可選配置 |
純Ag初始化標樣 | 磨樣機 |
真空泵 | 壓片機 |
礦石專用樣品杯 | 烘干箱 |
USB數據線 | ESI-900型XRF專用全自動熔樣機 |
電源線 | 電子秤 |
測試薄膜 | 礦石標準物質 |
儀器出廠和標定報告 | 交流凈化穩(wěn)壓電源 |
保修卡 | 150目篩子 |
全新設計的XTEST分析軟件
軟件內核包括基本參數法（FP），經驗系數法（EC）,可輕松分析各類樣品。
*光譜處理參數包括用于定義背景連續(xù)性，堆積峰和峰總和，平滑度以及測量到的峰背景光譜的數量
*對吸收以及厚膜和薄膜二次熒光的校正，即基體效應，增強和吸收的校正。
*譜顯示：峰定性，KLM標記，譜重疊比較，可同時顯示多個光譜圖
*可以通過積分峰的凈面積或使用測得的參考光峰響應，將光峰強度建模為高斯函數。
*可以使用純基本參數方法，具有分散比的基本參數（對于包含大量低Z材料的樣品）或通過簡單的最小二乘擬合進行定量分析。
*基本參數分析可以基于單個多元素標準，多個標準或沒有標準的樣品
*提供多種數據訪問接口，可兼容LIMS實驗室管理系統(tǒng)
鋁土礦樣品10次連續(xù)測試穩(wěn)定性報告
測量次數 | MgO | Al2O3 | SiO2 | P2O5 | K2O | CaO | TiO2 | MnO | Fe2O3 | Pb |
鋁土礦-1 | 0.1054 | 75.2553 | 9.9633 | 0.189 | 0.1709 | 0.2083 | 3.5535 | 0.0401 | 10.311 | 0.006 |
鋁土礦-2 | 0.1049 | 75.2001 | 10.0606 | 0.1927 | 0.1662 | 0.2035 | 3.5657 | 0.0421 | 10.3259 | 0.0058 |
鋁土礦-3 | 0.1031 | 75.2126 | 10.0301 | 0.188 | 0.1617 | 0.2049 | 3.536 | 0.0404 | 10.257 | 0.0062 |
鋁土礦-4 | 0.0998 | 75.2123 | 10.0481 | 0.1937 | 0.1651 | 0.2071 | 3.5573 | 0.0444 | 10.3338 | 0.0061 |
鋁土礦-5 | 0.1075 | 75.2657 | 10.0629 | 0.1949 | 0.1654 | 0.2193 | 3.5481 | 0.0415 | 10.2885 | 0.0062 |
鋁土礦-6 | 0.1058 | 75.1657 | 10.0627 | 0.1988 | 0.1724 | 0.2206 | 3.5542 | 0.0404 | 10.321 | 0.0062 |
鋁土礦-7 | 0.1007 | 75.1966 | 10.0811 | 0.1928 | 0.1725 | 0.2199 | 3.5694 | 0.0438 | 10.334 | 0.0062 |
鋁土礦-8 | 0.1008 | 75.2769 | 10.0104 | 0.1947 | 0.1663 | 0.2185 | 3.5289 | 0.0406 | 10.2942 | 0.0059 |
鋁土礦-9 | 0.1057 | 75.2524 | 10.0968 | 0.1929 | 0.161 | 0.214 | 3.5483 | 0.0412 | 10.3395 | 0.006 |
鋁土礦-10 | 0.1049 | 75.2344 | 10.0828 | 0.1918 | 0.1635 | 0.2212 | 3.5648 | 0.0423 | 10.3411 | 0.0062 |
平均值 | 0.104 | 75.227 | 10.050 | 0.193 | 0.167 | 0.214 | 3.553 | 0.042 | 10.315 | 0.006 |
標準偏差 | 0.0026 | 0.0355 | 0.0397 | 0.0030 | 0.0042 | 0.0071 | 0.0129 | 0.0015 | 0.0272 | 0.0001 |
相對標 | 2.51% | 0.05% | 0.39% | 1.58% | 2.50% | 3.31% | 0.36% | 3.55% | 0.26% | 2.43% |
產品咨詢
聯(lián)系人：張經理
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