背景

礦業(yè)公司一直在努力提高勘探的成功率、鎖定高質(zhì)量的礦藏、提高生產(chǎn)力和利潤(rùn)。X 射線熒光光譜儀 (XRF) 是安全、具有經(jīng)濟(jì)效益且高度可靠的方法。過(guò)去的采礦勘探方法需要廣泛的地質(zhì)樣品勘探并將其收集到袋子中，然后帶到實(shí)驗(yàn)室以確定礦物質(zhì)含量。實(shí)驗(yàn)室分析通常需要2-4周的時(shí)間才能獲得結(jié)果。

Compass 300 XRF分析儀可以在現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行實(shí)時(shí)分析，并鏈接到GPS位置，幫助客戶快速的獲取可靠檢測(cè)結(jié)果。

介紹

Compass 300能量色散X射線熒光（EDXRF）基于臺(tái)式機(jī)的設(shè)計(jì)平臺(tái)，其分析性能更接近于功率更高的落地式光譜儀，比一般便攜式設(shè)備測(cè)試效果更穩(wěn)定，更出眾。配備了*SDD檢測(cè)器， 同時(shí)實(shí)現(xiàn)了高分辨率，高計(jì)數(shù)率CPS和高靈敏度，從而達(dá)到實(shí)驗(yàn)室級(jí)別的測(cè)試效果。

特點(diǎn)和優(yōu)勢(shì)

•Compass 300配備的SDD檢測(cè)器優(yōu)勢(shì)

>高分辨率：通常優(yōu)于130ev，降低相鄰元素干擾，并提高輕元素檢測(cè)效果

>高計(jì)數(shù)率：150,000 cps (high count per second)

得到相同的強(qiáng)度，只要普通Si Pin檢測(cè)器的0.2~0.05倍的時(shí)間，即Si Pin在設(shè)定分析時(shí)間為100秒的話，對(duì)SDD而言，得到相同的強(qiáng)度，只需5~20秒

>高靈敏度：靈敏度提高6-10倍。低背景值，提高元素檢測(cè)下限

•便攜，堅(jiān)固，緊湊的設(shè)計(jì)，輕松實(shí)現(xiàn)現(xiàn)場(chǎng)高精度樣品無(wú)損檢測(cè)

•可分析各種樣品形態(tài)：包括礦體、礦塊、礦渣、礦粉、粗礦、精礦、尾礦、土壤、泥土、泥漿、灰塵、粉塵、過(guò)濾物、薄膜、廢水、廢油、液體樣品等

•只需制備少量樣品便可進(jìn)行無(wú)損檢測(cè)

•一鍵測(cè)試，一鍵打印報(bào)告

•可選配大容量電池，無(wú)需外部供電情況下可實(shí)現(xiàn)長(zhǎng)時(shí)間工作

應(yīng)用領(lǐng)域

>分析礦種

涵蓋從Mg至U之間的金屬、非金屬、貴重金屬和稀有金屬礦等

>勘查

多元素現(xiàn)場(chǎng)快速分析，可廣泛應(yīng)用于普查、詳查的各個(gè)過(guò)程，追蹤礦化異常，擴(kuò)展勘查范圍。可大大減少送回實(shí)驗(yàn)室樣品的數(shù)量，從而節(jié)約運(yùn)輸和分析費(fèi)用

>巖芯檢測(cè)

快速分析巖芯和和其他鉆探樣品，建立礦山三維圖，分析儲(chǔ)量，可大大提高鉆探現(xiàn)場(chǎng)及時(shí)決策效率

>開(kāi)采過(guò)程控制

礦體邊界圈定，礦脈走向判定，對(duì)開(kāi)采過(guò)程進(jìn)行精確管理和控制，對(duì)礦石品位進(jìn)行隨時(shí)檢測(cè)

>品位控制

對(duì)精礦、礦渣、礦尾等礦物品位進(jìn)行精確快速分析，為礦物貿(mào)易、加工以及再利用提供價(jià)值判斷依據(jù)

>環(huán)境分析

快速對(duì)礦石周圍環(huán)境、尾礦、粉塵、土壤污染等進(jìn)行分析與檢測(cè)，評(píng)估礦石環(huán)境修復(fù)效果

>石油化工：燃料，潤(rùn)滑油，添加劑中的硫元素分析，磨損金屬分析

>刑偵：證據(jù)分析，材料匹配，爆炸物等

>食品，化妝品和藥品：添加劑控制，原材料，有害金屬，包裝材料等

技術(shù)參數(shù)

無(wú)需每日校準(zhǔn)即可獲得高精度結(jié)果。儀器自帶工廠標(biāo)定曲線，客戶可直接測(cè)量樣品。

鉛鋅礦樣品連續(xù)測(cè)試報(bào)告