X射線熒光光譜法分析高純鎂砂

更新時間：2022-09-13 點擊次數：1039

以淀粉做粘結劑,采用粉末壓片,硼酸鑲邊墊底的制樣方法,用能量色散X射線熒光光譜儀測定高純鎂砂中的SiO2、Al2O3、CaO、Fe2O3,MgO采用差減法計算,本法分析速度快,測量精密度好,測量結果與濕法化學和熒光熔片法分析結果相符

EDX9000B-x熒光光譜礦產分析儀.jpg

ESI英飛思EDX9000B光譜儀主要應用于在采礦過程的所有階段進行材料元素成分分析。從勘探樣品到礦物精礦，從選礦到尾礦，EDX9000B都在苛刻的采礦環境中均具有出色的靈活性，分析性能和穩定性。

EDX9000B專注于對地質材料的主量，微量和痕量元素進行定性和定量分析，其中包括：

•鐵礦• 銅礦• 鋁土礦•貴金屬礦產•稀土礦•原料•磷酸鹽•煤炭•鉛鋅礦•錳礦•鎳礦•石灰石•粘土•石膏•玻璃•土壤•水泥•耐火材料及其他等

EDX9000B操作簡單，分析性能出色，同時還可拓展到以下應用

>塑膠及有機物：塑料材料PE，PVC，添加劑等元素分析

>石油化工：燃料，潤滑油監測，添加劑，磨損金屬等中的硫元素分析

>環境：廢水，空氣污染，土壤和地面，排放控制等

>涂層厚度和薄膜：分析多層涂層，鋼涂層，雜質等

>刑偵及公安：證據分析，材料匹配，爆炸物等

>食品，化妝品和藥品：添加劑控制，原材料，有害金屬，包裝材料等

產品特點

作為一款專業為礦產元素分析而設計和生產的光譜儀，EDX-9000B兼顧了耐用性，易于操作和高性價比。其顯著優勢主要有：

•無需或者很少的樣品制備，全程無損分析，一到三分鐘即可出結果

•強大的基于Windows的FP（基本參數算法）軟件降低了基體效應的影響

•50 kV 光管管和電制冷的SDD硅漂移檢測器不僅具有出色的短期重復性和長期重現性，而且具有出色的元素峰分辨率

•能同時進行元素和氧化物成分分析

•多重儀器硬件保護系統，并可通過軟件進行全程實時監控, 讓儀器工作更穩定、更安全

•特別設計的光路和真空系統大大提高了輕元素(Na, Mg, Al, Si, P）的測試靈敏度和準確性，同時在測試Cd,Pb,Cr,Hg,Br,Cl等其他元素的靈敏度和穩定性都有了明顯的提高

•友好的用戶界面，可定制的分析報告，可一鍵打印測試報告，包括分析結果，樣品信息，光譜信息和樣品圖像

•八種光路準直系統，根據不同樣品大小自動切換，亦可測試樣品不同位置再求平均值，降低樣品不均勻性造成的誤差

•高清內置攝像頭，清晰地顯示儀器所檢測的樣品部位

礦產元素檢測專家EDX9000B

功能強大而界面友好的測試軟件

界面清晰易用。選擇方法并輸入樣品識別信息后即可開始測量。

軟件內核-基本參數法（FP）可輕松分析未知樣品。

EDX9000B已在工廠預安裝了軟件并進行了數據標定，客戶運行軟件即可立刻開始測試。無需每天重復標定。強大的軟件功能還提供了

>一鍵初始化儀器，基體自動匹配

>自動定性，半定量和定量分析，不同樣品測試譜圖可實時對比

>光譜處理和校正，去除雙倍峰和逃逸峰干擾，降低元素吸收增強效應影響

>光譜背景扣除，有效提高微量元素檢測精度

>可實時刷新測量結果

>簡單的流程欄向導可幫助用戶創建新的自定義標定曲線

>可定制化測試報告，一鍵打印

磁鐵礦樣品10次測試穩定性報告

測量次數 /元素	Fe(%)	SiO2(%)	TiO2(%)	MnO(%)	Zn(%)	S(%)	P(%)	Pb(%)	K2O(%)
1_1	65.4014	6.6936	0.1123	0.0489	0.0090	0.8309	0.0118	0.0076	0.0684
1_2	65.4336	6.6575	0.1038	0.0465	0.0095	0.9092	0.0121	0.0075	0.0667
1_3	65.3603	6.7127	0.1132	0.0495	0.0093	0.8903	0.0119	0.0071	0.0677
1_4	65.3935	6.7233	0.1278	0.0483	0.0097	0.8303	0.0117	0.0068	0.0684
1_5	65.3812	6.7145	0.1058	0.0493	0.0097	0.8303	0.0117	0.0066	0.0684
1_6	65.3905	6.7421	0.1021	0.0503	0.0097	0.8303	0.0117	0.0065	0.0684
1_7	65.3603	6.7041	0.1075	0.0495	0.0093	0.8903	0.0119	0.0071	0.0677
1_8	65.4161	6.7280	0.1086	0.0461	0.0093	0.8938	0.0115	0.0074	0.0668
1_9	65.4320	6.7036	0.1182	0.0512	0.0096	0.9005	0.0120	0.0079	0.0669
1_10	65.4546	6.7707	0.1072	0.0502	0.0097	0.8868	0.0121	0.0067	0.0677
平均值Average	65.4024	6.7150	0.1107	0.0490	0.0095	0.8693	0.0118	0.0071	0.0677
標準偏差SD	0.0316	0.0300	0.0077	0.0016	0.0002	0.0340	0.0002	0.0005	0.0007
相對標準偏差RSD	0.0483%	0.4466%	6.9348%	3.3142%	2.5743%	3.9090%	1.6512%	6.6142%	1.0337%
測量次數 /元素	Na2O (%)	MgO (%)	Al2O3 (%)	As (%)	Cr (%)	Ni (%)	Cu (%)	Sn (%)	CaO (%)
1_1	0.0203	0.7523	0.5222	0.0065	0.1636	0.0760	0.0476	0.0131	0.6359
1_2	0.0232	0.8134	0.5230	0.0061	0.1584	0.0787	0.0488	0.0114	0.6336
1_3	0.0213	0.8059	0.5407	0.0071	0.1667	0.0796	0.0494	0.0144	0.6345
1_4	0.0216	0.7635	0.5234	0.0072	0.1640	0.0761	0.0485	0.0131	0.6267
1_5	0.0223	0.7815	0.5334	0.0072	0.1640	0.0751	0.0485	0.0131	0.6267
1_6	0.0222	0.7311	0.5512	0.0072	0.1640	0.0741	0.0485	0.0131	0.6267
1_7	0.0212	0.7559	0.5407	0.0071	0.1667	0.0756	0.0494	0.0144	0.6345
1_8	0.0249	0.7737	0.5233	0.0068	0.1576	0.0760	0.0471	0.0131	0.6324
1_9	0.0204	0.7712	0.5123	0.0064	0.1659	0.0750	0.0475	0.0140	0.6241
1_10	0.0236	0.8017	0.5435	0.0071	0.1663	0.0730	0.0489	0.0130	0.6414
平均值Average	0.0221	0.7750	0.5314	0.0069	0.1637	0.0759	0.0484	0.0133	0.6317
標準偏差SD	0.0015	0.0261	0.0123	0.0004	0.0033	0.0020	0.0008	0.0009	0.0054
相對標準偏差RSD	6.6056%	3.3702%	2.3177%	5.8244%	1.9863%	2.5892%	1.6256%	6.5508%	0.8578%

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